スピン偏極透過電子顕微鏡による強度干渉実験

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 21pB11-12

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.72.2.0_2266

会議情報

主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2017年度日本物理学会秋季大会

開催地: 宇都宮大学, 岩手大学

開催日: 2017/09/12 - 2017/09/24

スピン偏極透過電子顕微鏡による強度干渉実験

桑原真人, 宇治原徹, 齋藤晃, 田中信夫

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キーワード: Ｘ線・粒子線, 電子線, 回折・散乱法・干渉, ホログラフィ, 時間分解測定, 装置開発

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