半導体中の不純物状態の新たな定量的予測方法

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 17aD207-8

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.74.1.0_1921

会議情報

主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2019年度日本物理学会第74回年次大会

開催日: 2019/03/14 - 2019/03/17

2019年度日本物理学会第74回年次大会

半導体中の不純物状態の新たな定量的予測方法

斎藤晋, 藤本義隆, 山下寛樹, 芳賀太史

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キーワード: 領域横断テーマ, 理論, 不純物・格子欠陥, バンド構造

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