抄録
高LET重粒子線によっていわゆる修復の難しい複雑な損傷が作られることが知られている。これまでは、DNA二本鎖切断とその複雑な損傷に注目が集められてきたが、本発表では、DNA一本鎖切断、あるいは塩基損傷によって作られる複雑な損傷について、相同組み換え修復欠損細胞株を用いて検証した結果を延べる。G1期に細胞周期をそろえた細胞に放射線を照射すると、X線と比較し重粒子線照射の場合、細胞死が起こりやすく、またChromatid型の染色体損傷が生成される。相同組み換え修復欠損細胞では、Chromatid型の染色体損傷の発生頻度が多くなる。この結果は、G1期において作られた複雑なDNA損傷がDNA合成期において、二本鎖切断に変換された事を示唆しており、DNA一本鎖切断、あるいは塩基損傷によって作られる複雑な損傷が重粒子線で作られていることを意味している。
