HEMTにおけるゲート電極形状と寄生遅延要因との関係

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第57回春季応用物理学関係連合講演会

セッションID: 19a-TK-8

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2010.1.0_3128

会議情報

主催: 社団法人応用物理学会

会議名: 春季応用物理学関係連合講演会

回次: 57

開催地: 東海大学

開催日: 2010/03/17 - 2010/03/20

HEMTにおけるゲート電極形状と寄生遅延要因との関係

*赤川啓介, 福田俊介, 末光哲也, 尾辻泰一

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キーワード: 19a-TK-8, 半導体B（探索的材料・物性・デバイス）, 超高速・機能デバイス, 高電子移動度トランジスタ, 超高速デバイス

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