The 61st JSAP Spring Meeting 2014
セッションID: 19p-E8-6
会議情報
主催: The Japan Society of Applied Physics
会議名: 応用物理学会春季学術講演会
回次: 61
開催地: 青山学院大学
開催日: 2014/03/17 - 2014/03/20
Analysis of Degradation Mechanism on Bottom Gate Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors with Siloxane Passivation Layer
*Chaiyanan Kulchaisit, Yasuaki Ishikawa, Yoshihiro Ueoka, Bermundo Juan Paolo, Masahiro Horita, Yukiharu Uraoka
著者情報
詳細
記事の1ページ目
