導電性AFM探針による高密度一次元連結Si系量子ドットからの電子放出特性評価 (II)

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第61回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 19p-D9-13

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2014.1.0_2681

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 61

開催地: 青山学院大学

開催日: 2014/03/17 - 2014/03/20

導電性AFM探針による高密度一次元連結Si系量子ドットからの電子放出特性評価 (II)

*竹内大智, 牧原克典, 大田晃生, 池田弥央, 宮崎誠一

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キーワード: 19p-D9-13, 半導体A（シリコン）, 基礎物性・表面界面現象・シミュレーション, 電子放出, Si量子ドット

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