応用物理学会学術講演会講演予稿集
Online ISSN : 2436-7613
第62回応用物理学会春季学術講演会
セッションID: 13p-P17-6
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GaN/AlN共鳴トンネルダイオードで生じる双安定性の劣化メカニズム
*永瀬 成範高橋 言緒清水 三聡
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