チャージアンプを備えたnc-AFMによる表面電子状態解析

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第63回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 22a-H113-2

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.1.0_1546

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 63

開催地: 東京工業大学

開催日: 2016/03/19 - 2016/03/22

チャージアンプを備えたnc-AFMによる表面電子状態解析

*野上真, 新井豊子, 笹原亮, 富取正彦

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キーワード: 22a-H113-2, 薄膜・表面, プローブ顕微鏡, 走査型プローブ顕微鏡, チャージアンプ, 静電容量, 接触電位差

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