走査型透過電子顕微鏡を用いたBaTiO<sub>3</sub>薄膜のナノドメイン構造解析

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第63回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 21p-H137-3

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.1.0_1583

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 63

開催地: 東京工業大学

開催日: 2016/03/19 - 2016/03/22

走査型透過電子顕微鏡を用いたBaTiO₃薄膜のナノドメイン構造解析

*小林俊介, 加藤丈晴, 幾原雄一, 山本剛久

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キーワード: 21p-H137-3, ビーム応用, 電子ビーム応用, 電子顕微鏡による構造解析・分析, 走査型透過電子顕微鏡, BaTiO3, ドメイン

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