硬X 線光電子分光法によるa-Si/BaSi<sub>2</sub>のバンドアライメント測定

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第63回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 21a-S223-3

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.1.0_2853

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 63

開催地: 東京工業大学

開催日: 2016/03/19 - 2016/03/22

硬X 線光電子分光法によるa-Si/BaSi₂のバンドアライメント測定

*高部涼太, 武内大樹, Du Weijie, 伊藤啓太, 都甲薫, 上田茂典, 木村昭夫, 末益崇

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キーワード: 21a-S223-3, 半導体, 探索的材料物性・基礎物性, シリサイド半導体，環境半導体, 硬X線光電子分光法, 太陽電池

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