Ge-Sb-Te薄膜におけるファラデー電流と抵抗スイッチ現象の共存

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第63回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 22a-W331-8

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.1.0_3654

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 63

開催地: 東京工業大学

開催日: 2016/03/19 - 2016/03/22

Ge-Sb-Te薄膜におけるファラデー電流と抵抗スイッチ現象の共存

*今西佑典, 中岡俊裕

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キーワード: 22a-W331-8, 非晶質・微結晶, 基礎物性・評価・プロセス・デバイス, カルコゲン系材料, Ge-Sb-Te

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