X線吸収微細構造測定によるAl<sub>0.82</sub>In<sub>0.18</sub>Nの局所構造解析

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第77回応用物理学会秋季学術講演会

セッションID: 13a-A21-8

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.2.0_3108

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会秋季学術講演会

回次: 77

開催地: 朱鷺メッセ

開催日: 2016/09/13 - 2016/09/16

X線吸収微細構造測定によるAl_0.82In_0.18Nの局所構造解析

*清木良麻, 小森大資, 池山和希, 伊奈稔哲, 小沼猛儀, 宮嶋孝夫, 竹内哲也, 上山智, 岩谷素顕, 赤崎勇

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キーワード: 13a-A21-8, 結晶工学, III-V族窒化物結晶, 構造解析, 窒化物半導体, X線吸収微細構造, 分布ブラッグ反射鏡

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