第64回応用物理学会春季学術講演会
セッションID: 14p-311-13
会議情報
主催: 公益社団法人 応用物理学会
会議名: 応用物理学会春季学術講演会
回次: 64
開催地: パシフィコ横浜
開催日: 2017/03/14 - 2017/03/17
励起波長依存型高感度紫外光電子分光による状態密度のワイドレンジ計測：計測手法の評価および絶縁性試料への適用
キーワード:
14p-311-13,
有機分子・バイオエレクトロニクス,
評価・基礎物性,
分光学的評価（光電子分光，レーザー分光，振動分光，ESR，EELS，熱刺激電流など）,
励起波長依存型高感度紫外光電子分光,
有機半導体,
絶縁性高分子
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