X線マイクロビームを用いた窒化物系単一ナノワイヤ上Ga<sub>1-x</sub>In<sub>x</sub>N/GaN量子井戸の構造評価

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第64回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 14p-E205-6

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2017.1.0_3073

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 64

開催地: パシフィコ横浜

開催日: 2017/03/14 - 2017/03/17

X線マイクロビームを用いた窒化物系単一ナノワイヤ上Ga_1-xIn_xN/GaN量子井戸の構造評価

*清木良麻, 澁谷弘樹, 今井康彦, 隅谷和嗣, 木村滋, 岩瀬航平, 宮嶋孝夫, 上山智, 今井大地, 竹内哲也, 岩谷素顕, 赤崎勇

著者情報

*清木良麻
名城大理工
澁谷弘樹
名城大理工
今井康彦
高輝度光科学研
隅谷和嗣
高輝度光科学研
木村滋
高輝度光科学研
岩瀬航平
名城大理工
宮嶋孝夫
名城大理工
上山智
名城大理工
今井大地
名城大理工
竹内哲也
名城大理工
岩谷素顕
名城大理工
赤崎勇
名城大理工

キーワード: 14p-E205-6, 半導体, ナノ構造・量子現象, 量子井戸・量子細線・量子ドット・ナノワイヤ, GaN系ナノワイヤ, X線回折

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