表面X線回折によるペロブスカイト型酸化物薄膜の構造解析手法の開発

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第78回応用物理学会秋季学術講演会

セッションID: 7a-A202-5

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2017.2.0_1381

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会秋季学術講演会

回次: 78

開催地: 福岡国際会議場

開催日: 2017/09/05 - 2017/09/08

表面X線回折によるペロブスカイト型酸化物薄膜の構造解析手法の開発

*穴田壮人, 中西ー大野義典, 岡田真人, 木村剛, 若林裕助

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キーワード: 7a-A202-5, 薄膜・表面, 酸化物エレクトロニクス, 界面、ヘテロ構造, ペロブスカイト型酸化物薄膜, CTR散乱, ソフトウェア開発

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