三端子変位電流測定によるC<sub>60</sub>電界効果トランジスタの劣化観察

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第78回応用物理学会秋季学術講演会

セッションID: 7a-A203-8

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2017.2.0_2507

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会秋季学術講演会

回次: 78

開催地: 福岡国際会議場

開催日: 2017/09/05 - 2017/09/08

三端子変位電流測定によるC₆₀電界効果トランジスタの劣化観察

*森優貴, 田中有弥, 石井久夫

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キーワード: 7a-A203-8, 有機分子・バイオエレクトロニクス, 有機EL・トランジスタ, 劣化機構, 有機電界効果トランジスタ, 劣化, フラーレン

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