電界下X線回折による(111)正方晶PbZr<sub>0.35</sub>Ti<sub>0.65</sub>O<sub>3</sub>ナノロッドの圧電特性の評価

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第65回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 19p-C104-6

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2018.1.0_1415

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 65

開催地: 早稲田大学・ベルサール高田馬場

開催日: 2018/03/17 - 2018/03/20

電界下X線回折による(111)正方晶PbZr_0.35Ti_0.65O₃ナノロッドの圧電特性の評価

*岡本一輝, 山田智明, 坂田修身, 今井康彦, 吉野正人, 長崎正雅

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キーワード: 19p-C104-6, 薄膜・表面, 強誘電体薄膜, 強誘電体・高誘電率薄膜, 圧電体, ナノロッド

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