厚膜BGaN中性子半導体検出器の作製と放射線検出特性評価

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第65回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 19p-P7-78

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2018.1.0_645

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 65

開催地: 早稲田大学・ベルサール高田馬場

開催日: 2018/03/17 - 2018/03/20

厚膜BGaN中性子半導体検出器の作製と放射線検出特性評価

*丸山貴之, 望月健, 中川央也, 宇佐美茂佳, 本田善央, 天野浩, 小島一信, 秩父重英, 井上翼, 青木徹, 中野貴之

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キーワード: 19p-P7-78, 放射線, 放射線物理一般・検出器基礎, 検出器母材開発, 中性子検出器, BGaN, Ⅲ-Ⅴ族窒化物結晶

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