超伝導体共振器によるFeSe<sub>1-<i>x</i></sub>Te<sub><i>x</i></sub>超伝導体薄膜の磁場侵入長測定

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第66回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 11p-S423-12

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2019.1.0_2077

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 66

開催地: 東京工業大学大岡山キャンパス

開催日: 2019/03/09 - 2019/03/12

超伝導体共振器によるFeSe_1-xTe_x超伝導体薄膜の磁場侵入長測定

*中村奏太, 黒川穂高, 中島直哉, 石川智也, 色摩直樹, 小川亮, 荒木友輔, 鍋島冬樹, 上野和紀, 前田京剛

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キーワード: 11p-S423-12, 超伝導, 基礎物性, 磁束状態，高周波応答, 超伝導, マイクロ波, 鉄系超伝導体

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