応用物理学会学術講演会講演予稿集
Online ISSN : 2436-7613
The 80th JSAP Autumn Meeting 2019
セッションID: 21a-PB1-29
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Structural analysis of twisted graphene by scanning probe microscope grown on template graphene
*姚 瑶根岸 良太高城 大輔高村 真琴谷保 芳孝小林 慶裕
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© 2019 The Japan Society of Applied Physics
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