欠測値をもつ半導体工場測定データにおける平均ベクトル間の多重比較法(一般セッション7)

磯和 洋道; 森永 亘; 久住 麻希子; 山田 春一; 瀬尾 隆

doi:10.20551/jscstaikai.20.0_205

DOI https://doi.org/10.20551/jscstaikai.20.0_205

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欠測値をもつ半導体工場測定データにおける平均ベクトル間の多重比較法(一般セッション7)

磯和洋道, 森永亘, 久住麻希子, 山田春一, 瀬尾隆

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p. 205-206

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抄録

本報告では,欠測値をもつ半導体工場測定データにおいて,2標本問題における平均ベクトルの同等性検定とその同時信頼区間を構成することを考える.欠測値をもつことから,Srivastava (1985,2002)やSrivastava and Carter (1986)で提案されている反復法のアイデアによる平均ベクトルと分散共分散行列の最尤推定量を利用して,漸近的な議論を行い,半導体工場測定データに適用する.

責任著者(Corresponding author)

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