引張圧縮繰り返し負荷を受けるマイクロNi単結晶の疲労挙動とその寸法依存性

抄録

単一すべり方位を有するマイクロサイズのNi単結晶試験片に対して，走査型電子顕微鏡内で引張圧縮疲労試験を実施した．試験片は結晶学的なすべりを生じ，繰り返し数の増加とともに表面には突き出し/入り込みが成長した．試験片は繰り返し加工硬化を示さず，さらにマクロ材の疲労限よりも低い応力振幅であるにも関わらず，疲労き裂が発生した．試験片寸法の異なる試験片も用意し，それらの疲労挙動の差異についても検討した．