PENETRATION DEPTH OF X-RAYS FOR STRESS MEASUREMENT OF SILICON NITRIDE

材料

Online ISSN : 1880-7488
Print ISSN : 0514-5163
ISSN-L : 0514-5163

PENETRATION DEPTH OF X-RAYS FOR STRESS MEASUREMENT OF SILICON NITRIDE

Kenji SUZUKI, Keisuke TANAKA

著者情報

キーワード: X-Ray stress measurement, Penetration depth of X-ray, Stress distribution, Residual stress, Stress gradient, Ceramics

ジャーナルフリー

1995 年 44 巻 501Appendix 号 p. 134-135

DOI https://doi.org/10.2472/jsms.44.501Appendix_134

詳細

記事の1ページ目

著者関連情報

© by The Society of Materials Science, Japan

お気に入り & アラート

関連記事

閲覧履歴

前身誌

Top