測量用カメラの内部定位の解析的決定方法

抄録

近距離写真測量を行うと, 残存縦視差が数十ミクロンもでたり, 絶対標定した結果, その測定精度が数百分の一程度のものしか得られない場合が生ずる。この原因はその一つにカメラの内部定位が正しく定められていないことにある。写真測量をする場合, 使用するカメラの性能を最大限に発揮してほしいと思う。本論文では, 製作されたカメラの内部定位を解析的に厳密に求める方法を述べる。この方法は, 基準点のXYZ座標値と, その投影像の写真座標値xyを知って, この両者が中心投影の関係を満たすように内部定位を決定するものである。この方法が実際に適用しうることを, 仮想数値による解析結果を出すことによって証明している。