紙に転移及び浸透したインキの解析

抄録

本研究では、紙層中に浸透したインキビヒクルの分布状態を解析した。紙層間に浸透したインキビヒクルの有益な情報を得るための解析手法として、我々はインキビヒクル中の炭素の不飽和二重結合にオスミウムを気相中でラベル化した後、集束イオンビーム装置(FIB)を用いて印刷物断面を作製し、この断面をエレクトロンプローブマイクロアナライザー(EPMA)により分析する方法を開発した。この新たな方法を用いることにより、用紙に転移および浸透したビヒクルの分布状態を初めて観察することが可能となった。