とぴっくす：　高強度陽電子ビームを利用した陽電子プローブマイクロアナライザーの開発

大島 永康; 鈴木 良一; 大平 俊行; 木野村 淳; 鳴海 貴允; 上殿 明良; 藤浪 真紀

doi:10.32157/jsrc.85.0_39

抄録

陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA)を産総研にて開発中である．PPMAとは，陽電子ビームを集束して試料上に打ち込み，その際放出する２次電子・散乱陽電子・消滅γ線等（陽電子寿命やエネルギーのドップラー拡がり）を測定することにより試料微小領域の材料評価を行う装置である．PPMAを構成する各種技術と，既に得られている装置性能について報告する．

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