表面科学
Online ISSN : 1881-4743
Print ISSN : 0388-5321
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第一原理計算とSTMシミュレーション
赤木 和人
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2008 年 29 巻 9 号 p. 564-566

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抄録

Simulation methods for scanning tunneling microscopy (STM) based on first-principles calculations are briefly reviewed. After introducing features and comments on the most familiar Tersoff-Hamann approximation, some extended topics are also mentioned.

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