植え込み型心臓電子機器（CIEDs）の露出・感染に対する経静脈的デバイス全抜去法と一期的閉創の有用性の検討

抄録

　植え込み型心臓電子機器はしばしば露出・感染を生じる。近年，経静脈的リード抜去技術の発達によりデバイス全抜去が容易になり，形成外科の役割も変化しつつある。そこで，当院での露出，感染症例66例を，一期的閉創群（n=12），二期的閉創群（n=27），二次治癒群（n=27）に分けて検討した。全群で感染の再燃はなく，デバイス全抜去は感染制御に有効であった。入院期間は，二期的閉創群と比較して一期的閉創群で短い傾向があった。一期的閉創群で1例，二期的閉創群において2例で閉創術後に血腫を生じた。一期的閉創は，合併症を増加させることなく入院期間の短縮が得られることが示唆された。温存可能性や一期的閉創の提案のために，形成外科も抜去前から診療にかかわることが重要である。