日本表面真空学会学術講演会要旨集
Online ISSN : 2434-8589
2019年日本表面真空学会学術講演会
セッションID: 1P18
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10月28日(月)
カルサイト r(10-14)面の掻引痕パターンの方位角依存性
*山田 正理新藤 斎
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抄録

カルサイトr(10-14)面を、曲率半径0.05mmのサファイア針(荷重5、10gf)により、方位角30度ごとに掻引し、表面を光学顕微鏡とSEMにより観察した。押し込み実験では、[-4-21]から±51度方向に劈開線が走る。掻引実験では、この2方向の内側に掻引したときのみ劈開が起こり、干渉縞を伴う三角パターンが出現した。それ以外では、[010]方向すべり線だけが掻引痕外側に見られた。

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© 2019 公益社団法人 日本表面真空学会
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