主催: 日本表面真空学会
電通大院基盤理工
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C60分子ベアリング構造(グラフェン/単一C60分子/グラフェン界面)の水平走査中の硬さの変化を分子力学シミュレーションで調べた.その結果,C60分子の有効バネとC60-グラフェン間相互作用の有効バネを直列バネとした硬さを系全体の水平硬さを比較すると,微少走査領域でほぼ一致した.これより分子ベアリングの水平弾性はC60分子の弾性だけでなく,界面に働く相互作用の有効弾性も反映することが分かった.
表面科学講演大会講演要旨集
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