剥離グラフェンシートにおける長方形状格子のSTM観察とその起源

抄録

グラフェン中の局所欠陥に由来する電子状態は、様々な工学分野で重要な役割を持つ。我々は、走査型トンネル顕微鏡（STM）により、高配向性グラファイトの表面上に剥離・形成した単層厚さのナノグラフェンを観察した。特に、長方形状の周期を持つ不思議な電子状態に着目し、その特徴を詳細に調べた。さらに、グラフェンナノリボンの電子構造を第一原理計算し、長方形状格子の起源を考察した。