走査ダイヤモンドNV中心プローブ顕微鏡の開発

抄録

欠陥構造であるNV中心を含有するダイヤモンドを原子間力顕微鏡(AFM)の走査プローブ顕微鏡先端に取り付けることにより、量子状態をナノスケールで計測・イメージング可能な走査プローブ顕微鏡を実現できる。今回、レーザーによるダイヤモンドカッティングと集束イオンビーム(FIB)を用いた方法による走査ダイヤモンドNV中心プローブの作製と磁性体上の磁気ドメインからの漏洩磁場イメージングについて紹介する。