陽電子消滅法を用いた低放射化フェライト鋼F82Hのレーザ溶接部における格子欠陥率の評価

広瀬 颯; 森 裕章; 加藤 太一郎; 酒瀬川 英雄; 廣瀬 貴規; 谷川 博康; 佐藤 紘一

doi:10.14920/jwstaikai.2019f.0_66

2019年度秋季全国大会

DOI https://doi.org/10.14920/jwstaikai.2019f.0_66

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主催: 一般社団法人溶接学会

陽電子消滅法を用いた低放射化フェライト鋼F82Hのレーザ溶接部における格子欠陥率の評価

*広瀬颯, 森裕章, 加藤太一郎, 酒瀬川英雄, 廣瀬貴規, 谷川博康, 佐藤紘一

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キーワード: 低放射化フェライト鋼, レーザ溶接, 溶接後熱処理, 格子欠陥

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p. 66-67

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抄録

核融合炉における中性子損傷やスウェリングなどの原因の一つに構造材中の格子欠陥が挙げられている．本研究では陽電子消滅法を用いて低放射化フェライト鋼F82Hのレーザ溶接部における格子欠陥率を測定した結果，母材に比べて陽電子消滅寿命が長く，転位を主とした格子欠陥が多数形成されていることがわかった．また溶接後熱処理を施すことにより，その欠陥率は母材レベルにまで減少させることができることが明らかとなった．

責任著者(Corresponding author)

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