抵抗スポット溶接における電極損耗を考慮したナゲット形成挙動の数値解析

川邉 直雄; 谷口 公一; 松田 広志; 吉田 健

doi:10.14920/jwstaikai.2020s.0_66

2020年度春季全国大会

DOI https://doi.org/10.14920/jwstaikai.2020s.0_66

会議情報

主催: 一般財団法人　溶接学会

会議名: 2020年度春季全国大会

回次: 106

開催日: 2020/04/22 - 2020/04/24

抵抗スポット溶接における電極損耗を考慮したナゲット形成挙動の数値解析

*川邉直雄, 谷口公一, 松田広志, 吉田健

著者情報

キーワード: 抵抗スポット溶接, 電極損耗, 数値解析

会議録・要旨集フリー

p. 66-67

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抄録

超ハイテンの抵抗スポット溶接において，連続打点時の電極損耗現象およびナゲット形成挙動の変化を実験により観察した．そして，実験によって確認された電極損耗状態を数値解析によってモデル化し，ナゲット形成挙動の解析を行い，実験における連続打点時のナゲット形成およびスパッタ発生挙動について温度，応力状態の観点から考察した．

責任著者(Corresponding author)

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