隔膜型環境制御試料室システム

顕微鏡

Online ISSN : 2434-2386
Print ISSN : 1349-0958

特集：環境セル　その場観察

隔膜型環境制御試料室システム

福嶋球琳男, 石川晃

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キーワード: E-TEM, 環境TEM, 環境制御, EC, 隔膜

ジャーナルフリー

2008 年 43 巻 1 号 p. 9-14

DOI https://doi.org/10.11410/kenbikyo.43.1_9

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© 2008 公益社団法人日本顕微鏡学会

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