最近の研究と技術
電子直接検出カメラ（direct electron detector）のTEMへの応用
2013 年 48 巻 1 号 p. 57-60
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2013 年 48 巻 1 号 p. 57-60
CMOSイメージセンサーを用いた電子直接検出カメラ（Direct electron detector: DED）が開発され，次世代の透過電子顕微鏡用撮像媒体として注目されている．DEDはその構造原理からCCDに比べて高い解像度と感度を持つことから，クライオ電子顕微鏡などの低照射観察への応用が期待される．また連続高速撮影が可能なため，試料経時観察やドリフト補正などにも利用される．本稿ではそのDEDの仕組みと性能，そしてこれを利用した最近の応用研究を紹介する．
