電子顕微鏡
Print ISSN : 0417-0326
走査型静電容量顕微鏡の原理と応用
石井 真史
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キーワード: Capacitance, 捕獲中心, 局在電子, SCM-XAFS, サイト選択
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2003 年 38 巻 1 号 p. 19-23

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