AFMによる原子操作と複素ナノ構造体組立

顕微鏡

Online ISSN : 2434-2386
Print ISSN : 1349-0958

AFMによる原子操作と複素ナノ構造体組立

森田清三, 杉本宜昭, オスカルクスタンセ, 阿部真之

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キーワード: 原子間力顕微鏡, 原子識別, 交換型原子操作, 原子埋め込み文字, フォース・スペクトロスコピー

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2007 年 42 巻 2 号 p. 100-105

DOI https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.42.100

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