日本鉱物学会年会講演要旨集
日本鉱物学会2005年度年会
セッションID: K5-06
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水のX線ラマン散乱測定
*福井 宏之HUOTARI SimoANDRAULT Denis川本 竜彦
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抄録

X-ray Raman Scattering (XRS) will provide similar information to that by X-ray Absorption Spectroscopy about light elements even under extreme conditions. We have applied this technique to water under pressure conditions using diamond anvil cells and beryllium gaskets. The difference has not been observed in the Raman band near-edge structures of O K-edge between 0.27 and 0.47 GPa.

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© 2005 日本鉱物科学会
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