抄録
ポリジメチルシロキサン (PDMSi) 中の溶存水が形成するクラスターをIRスペクトル法で検討し, 低分子シロキサン中および低分子エーテル化合物中溶存水の状態と比較した. また, 水クラスターの熱安定性を調べた. さらに含水PDMSiの導電率を計測し, PDMSiの絶縁性低下に及ぼすクラスターの効果について検討した.
PDMSi中溶存水は1対1型の結合水を主体とした小クラスターによって構成されている. 低分子エーテル化合物と比較して, >O周辺に集まる大型クラスターはほとんど形成されていない. この小クラスターは加熱に対して安定で, 100℃においても68%残存していた.
PDMSi中溶存水は総水分量180ppmまでは導電率の増加に寄与していないが180ppmを超えると水分量増加とともに導電率が増加する傾向を示した. この際 [>O・H2O] がもっとも伝導に寄与していることが明らかになった.
