横浜国立大学工学部
1985 年 54 巻 8 号 p. 799-805
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最近の内外の研究から, (1) 表面最外層の状態観測が可能なぺニングイオン化電子分光法, (2) 光 (X線)を用いずに,電子線照射でEXAFSを観測する方法, (3) 表面準位をバルク準位から判別する方法とその応用, (4) 表面に形成される一次元伝導性物質など,四つの話題を紹介する.
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