強電界中の吸着と脱離
1990 年 59 巻 2 号 p. 175-180
詳細
1990 年 59 巻 2 号 p. 175-180
強電界の加わった表面-吸着子系の電子状態を探るために,電界イオン顕微鏡 (FIM) を例にとり,そこでの吸着機構と脱離の動力学の理論的解析を行った.その結果,物理吸着を支持してきた従来の現象論では脱離エネルギーの電界による急激な増大を説明できないことがわかり,本研究は化学吸着への移行を支持した.また得られた断熱電子状態から透熱電子状態を求めることにより,イオン発生量の理論と測定値との定量的な比較が可能になったことをみる.
