応用物理
Online ISSN : 2188-2290
Print ISSN : 0369-8009
粒子線励起X線分析法(PIXE)の現状と将来
宇田 応之
著者情報
ジャーナル フリー

1992 年 61 巻 7 号 p. 672-681

詳細
抄録
粒子線励起X線分析法は,少ない試料で,微量分析ができる.そのうえ,100以上の元素に対し,ほとんど同じ検出感度をもつ.さらに,大気中でも分析可能であったり,目的元素の化学結合状態の情報まで得ることができる.そのため,この方法の応用範囲はきわめて広い.そこで,この方法の測定原理,特徴,医学・生物学試料への応用,環境科学への応用,工業材料への応用,文化財への応用,化学結合効果について,実例をあげながら説明し,最後に本法の将来像についても触れる.
著者関連情報
© 社団法人 応用物理学会
前の記事 次の記事
feedback
Top