ゾル-ゲル法で作製したGeO₂-SiO₂ガラスのGe²⁺中心

抄録

Ge²⁺中心の形成におけるガラス組成と構造の影響を調査するために，(100-x)GeO₂-xSiO₂ガラス(x = 0-100 mol%)をゾル-ゲル法によって作製した．GeO₂およびGeO₂-SiO₂ガラスでは，Ge²⁺中心のT₁→S₀，T₀遷移に従った蛍光バンドがそれぞれ310および395 nmを中心波長として出現した．80GeO₂-20SiO₂ガラスが最も強いGe²⁺中心の蛍光バンドを示した．全てのガラスでは，残留炭素に関与した幅広い蛍光バンドが320-600 nmの範囲で出現し，その強度は，GeO₂の増加に伴い増加された．