抄録
3及び8 mol% Y2O3安定化ZrO2多結晶体(3Y及び8Y)の焼結過程での微構造発達を1100~1500℃の温度範囲で研究した。8Yの粒成長挙動は、3Yよりも大幅に増大した。3Y及び8Yの粒界面では、アモルファス又は第2相は存在せず、Y3+イオンが約10 nm以下の幅で偏析しており、8YのY3+偏析量は、3Yよりもかなり少ないことが分かった。この結果は、Y3+偏析量の増加は粒成長を抑制していることを示している。故に、焼結過程での粒成長挙動は、粒界に偏析しているY3+の溶質ドラッグ効果によって説明することができる。