近年，異なる項目から構成されるが，同一精度で測定可能な「等質テスト」の必要性が高まっている．しかしながら等質テスト構成において項目露出の偏りがしばしば生じる．この問題により，項目とテストの信頼性が失われることが知られている．そのため項目露出の頻度は一様に分布していることが望ましい．これを実現するために本研究では項目露出を考慮した整数計画法による等質テスト構成を提案する．本提案手法ではテスト構成時に多く露出している項目をアイテムバンクから除外することで，項目露出の偏りを考慮し改善した．提案手法の有効性をシミュレーションと実データを用いた実験により示した．
