精密工学会学術講演会講演論文集
2003年度精密工学会秋季大会
セッションID: H53
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表面トポグラフィー
半導体ガス用ウルトラクリーン容器の表面粗さとクリーン度の関係
鈴木 実田子 和宏櫻井 文仁*下田 祐紀夫
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抄録
半導体用高純度ガスを充填しておくウルトラクリーン容器は、内面を鏡面研磨した後、ウルトラクリーン化(例えば、容器内の1立方フィート当り、粒径が0.1μm以上のパーティクルを10個以下にウルトラクリーン化)するため、内部を洗浄する必用がある。本研究は、容器内面の表面粗さと洗浄後のクリーン度の関係を定量的に評価し、ウルトラクリーン容器では、表面粗さを1μmRy(最大高さ)以下にする必要があることを示した。
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© 2003 公益社団法人 精密工学会
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