抄録
従来,細分割曲面を用いたリバースエンジニアリングの対象はCGモデルを前提としたため,複雑な製品のデザインモデルの高密度測定点群に対して安定かつ高精度に曲面にフィットできなかった.本研究では,曲率評価に基づくフィレット等の特徴保存,Quasi-Interpolationおよび非一様細分割を用いてこの問題を解決し,高密度測定点群にフィットするLoop細分割曲面を生成する新手法を提案する.提案手法を100万点以上の規模の高密度点群に適用し,これを約1/200の頂点数をもつメッシュモデルに圧縮可能である.
