位相子と検光子の二重回転による分光ポラリメータ

安里 直樹; 若山 俊隆; 大谷 幸利; 梅田 倫弘

doi:10.11522/pscjspe.2006S.0.1179.0

2006年度精密工学会春季大会

セッションID: O62

DOI https://doi.org/10.11522/pscjspe.2006S.0.1179.0

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主催: 社団法人精密工学会

メカノフォトニクス(3)

位相子と検光子の二重回転による分光ポラリメータ

*安里直樹, 若山俊隆, 大谷幸利, 梅田倫弘

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キーワード: 偏光特性, 分光偏光計, 楕円率

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抄録

近年,さまざまな偏光特性を制御するため光機能性高分子が注目されている.本研究では偏光特性を楕円率として計測する手法を提案する.これは検光子と位相子を3対1の回転比率で同期させ位相変調を行う.同時に位相子の複屈折位相差のキャリブレーション法も提案する.実際に波長633nmのHe–Neレーザを用いた実験と,光源にハロゲンランプを用いて測定試料の多波長域における楕円化率の計測を試みたので報告する.

責任著者(Corresponding author)

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