比較測定用校正システムの開発

抄録

寸法の測定には、絶対測定と比較測定の2種類があり、本研究で対象とする比較測定とは、測定標準を用いて、被測定物の差から寸法をダイヤルゲージ等の計測器で割り出す方法である。しかし、測定機メーカーが独自の規格で校正治具を開発し、比較測定機を校正しており、三次元測定機等の同一規格での試験がない。そのため、本研究では接触型比較測定機における校正治具およびシステムの開発を行い、校正手法の妥当性を確認した。